Publications

Publications

Recherche

Recherche

Auteur
hors TIMA
Équipe :

Mot clé
Type de publications
Tous
Sélectionne/déselectionne tous les types de publications
Journal art.
International National Tous
 Brevets  Conférences invitées
Conference art.
International National Tous
Chapitres de livre  Livres & Éditions Ouvrages
 Autres communications
 Logiciels  Thèses
 
 année
 

6 résultats

  1 Revues internationales
  4 Conférences internationales
  1 Conférences nationales

1 Revues internationales

1 Silveira Feitoza R., Barragan M., Dzahini D., Mir S., Reduced-code static linearity test of split-capacitor SAR ADCs using an embedded incremental Sigma-Delta converter, IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Vol. 19, No. 1, pp. 37-45, DOI: 10.1109/TDMR.2019.2891298, mars 2019
 
remonter

4 Conférences internationales

1 Portolan M., Silveira Feitoza R., Takam Tchendjou G., Reynaud V., Senthamarai Kannan K., Barragan M., Simeu E., Maistri P., Anghel L., Leveugle R., Mir S., A Comprehensive End-to-end Solution for a Secure and Dynamic Mixed-signal 1687 System, 2020 International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2020), Naples (Napoli), ITALY, DOI: 10.1109/IOLTS50870.2020.9159721, 13 juillet au 21 septembre 2020
 
2 Silveira Feitoza R., Barragan M., Gines A., Mir S., On-chip reduced-code static linearity test of Vcm -based switching SAR ADCs using an incremental analog-to-digital converter, IEEE European Test Symposium (ETS 2020), Tallinn, ESTONIA, DOI: 10.1109/ETS48528.2020.9131588, 25 mai au 1 juin 2020
 
3 Silveira Feitoza R., Barragan M., Mir S., Reduced-Code Techniques for On-Chip Static Linearity Test of SAR ADCs, 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), pp. 263-268, Cuzco, PERU, 6 au 9 octobre 2019
 
4 Silveira Feitoza R., Barragan M., Mir S., Dzahini D., Reduced-code static linearity test of SAR ADCs using a built-in incremental Sigma-Delta converter, 24th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS'2018), pp. 29-34, Platja d'Aro, SPAIN, DOI: 978-1-5386-5992-2/18, 2 au 4 juillet 2018
 
remonter

1 Conférences nationales

1 Silveira Feitoza R., Barragan M., Dzahini D., Mir S., Static linearity test of SAR ADCs using an embedded incremental Σ∆ converter, Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-nanoélectronique (JNRDM 2019), Montpellier, FRANCE, 3 au 5 juin 2019
 
remonter