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4 résultats

  1 Revues internationales
  2 Conférences internationales
  1 Conférences nationales

1 Revues internationales

1 Silveira Feitoza R., Barragan M., Dzahini D., Mir S., Reduced-code static linearity test of split-capacitor SAR ADCs using an embedded incremental Sigma-Delta converter, IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Vol. 19, No. 1, pp. 37-45, DOI: 10.1109/TDMR.2019.2891298, mars 2019
 
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2 Conférences internationales

1 Silveira Feitoza R., Barragan M., Mir S., Reduced-Code Techniques for On-Chip Static Linearity Test of SAR ADCs, 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), pp. 263-268, Cuzco, PERU, 6 au 9 octobre 2019
 
2 Silveira Feitoza R., Barragan M., Mir S., Dzahini D., Reduced-code static linearity test of SAR ADCs using a built-in incremental Sigma-Delta converter, 24th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS'2018), pp. 29-34, Platja d'Aro, SPAIN, DOI: 978-1-5386-5992-2/18, 2 au 4 juillet 2018
 
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1 Conférences nationales

1 Silveira Feitoza R., Barragan M., Dzahini D., Mir S., Static linearity test of SAR ADCs using an embedded incremental Σ∆ converter, Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-nanoélectronique (JNRDM 2019), Montpellier, FRANCE, 3 au 5 juin 2019
 
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