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4 résultats

  3 Conférences internationales
  1 Chapitres de livre

3 Conférences internationales

1 Sivadasan A., Shah R., Cacho F., Anghel L., NBTI aged cell rejuvenation with back biasing and resulting critical path reordering for digital circuits in 28nm FDSOI, Design Automation and Test in Europe (DATE'2018), Dresden, GERMANY, 19 au 23 mars 2018
 
2 Shah R., Cacho F., Anghel L., Investigation of speed sensors accuracy for process and aging compensation, IEEE International reliability Physics Symposium (IRPS'2018), San Francisco, UNITED STATES, 11 au 15 mars 2018
 
3 Cacho F., Benhassain A., Shah R., Huard V., Anghel L., Investigation of critical path selection for in-situ monitors insertion, 23rd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2017), pp. 247-252, Thessaloniki, GREECE, 3 au 5 juillet 2017
 
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1 Chapitres de livre

1 Anghel L., Shah R., Cacho F., On-Chip Ageing Monitoring and System Adaptation, Ageing of Integrated Circuits: Causes, Effects and Mitigation TechniquesOn-Chip Ageing Monitoring and System Adaptation, B. Halak (Eds.) , Ed. , pp. 149-180, DOI: 10.1007/978-3-030-23781-3_6, 2019
 
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