Laboratoire TIMA

Thèses soutenances


« Développement d'outils de diagnostic pour l'analyse des défaillances des circuits intégrés analogiques et mixtes ».

Candidat : T. Melis

Directeur de thèse : E. Simeu

Thèse de Doctorat : These de Doctorat, Université Grenoble Alpes

Spécialité : Micro et Nano Electronique

Soutenance : Dec. 14th, 2021 - 10:00 Viallet - Amphi C

Résumé

L'objectif de la thèse est de mettre en place de nouvelles méthodes de localisation par le développement d'outils automatiques permettant une comparaison sans pièce de référence. Le but est d'automatiser les méthodes globales par simulation des mécanismes d'émission de lumière des transistors et de la stimulation laser. Le diagnostic sera basé sur la simulation électrique du circuit avec son test qui est disponible pour les dispositifs analogiques et mixte digital analogique et reconstruction de l'image quantitative de l'émission de lumière ou de la stimulation, suivie d'une comparaison automatique aux images capturées sur l'échantillon. Cela permettra d'accroitre l'efficacité des différences de simulation par rapport aux pièces défaillantes. Cette méthode sera appliquée à la plus part des techniques d'imagerie de défauts : OBIRCH, LVI. En ce qui concerne les méthodes de probing, cette étude permettra à l'analyste de remonter à partir des simulations électriques réalisées au top, des signaux portant des indications sur la panne. Pour optimiser le chemin à suivre, nous proposons d'utiliser les méthodes de diagnostic actuellement en cours de développement basées sur la simulation de fautes. La disposition de la simulation des nœuds internes avec la mesure effectuée permettra alors de remonter aux nœuds défaillants avec une meilleure précision. Les méthodes inductives (de cause à effets) basées sur le tracé des chemins critiques et non sur la simulation de faute seront explorées.