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RMS

Reliable Mixed-signal Systems
créée en 2002


Thèmes de recherche

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L'équipe RMS a une expertise reconnu dans le domaine des systèmes et circuits intégrés analogiques/mixtes (AMS) et radiofréquence (RF), avec un accent spécifique sur les techniques de test / de contrôle embarqués et les outils de CAO associés. Ceci est particulièrement important pour les systèmes hautement intégrés, notamment les systèmes sur puce à signaux mixte (AMS SoC) qui sont utilisés aujourd'hui dans la plupart des applications de la société de l'information. Les techniques que nous développons visent à réduire les coûts de test de production, à augmenter le rendement de production, à améliorer la qualité, la fiabilité et la robustesse. Nos activités couvrent trois axes de recherche scientifique; "conception en vue du test de système analogique / mixte /RF", "Test assistée par ordinateur (TAO)'' et ''contrôle embarqué des systèmes hétérogènes AMS et RF " y compris la modélisation de systèmes hétérogènes à différents niveaux d'abstraction. Notre expertise dans ce domaine nous permet d'obtenir des résultats qui ne sont pas seulement un pionnier et considérés comme l'état de l'art dans le domaine de recherche, mais font aussi l'objet d'exploitation industrielle. La pertinence nos travaux de recherche et la qualité des résultats obtenus sont confirmées par des prix de meilleur papier obtenus dans les grandes conférences internationales dans chacun des trois axes de recherche au cours des dernières années. Notre équipe est impliquée dans divers projets de recherche et de développement nationaux et européens et a initié des collaborations durables avec de nombreuses universités étrangères.

Responsable d'équipe

SIMEU Emmanuel

Dernières publications

Cilici F., Barragan M., Mir S., Lauga-Larroze E., Bourdel S., Leger G., Yield Recovery of mm-Wave Power Amplifiers using Variable Decoupling Cells and One-Shot Statistical Calibration, IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2019), pp. 1-5, Sapporo, JAPAN, 2019
 
Margalef-Rovira M., Barragan M., Pistono E., Bourdel S., Ferrari P., Conception de déphaseurs RTPS faible consommation en bande millimétrique, 21èmes Journées Nationales Micro-ondes (JNM 2019), Caen, FRANCE, 2019
 
Bounceur A., Mir S., Euler R., Beznia K., Estimation of Analog/RF Parametric Test Metrics Based on a Multivariate Extreme Value Model (Early Access), IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Ed. IEEE, Vol. , DOI: 10.1109/TCAD.2019.2907923, 2019
 
Barragan M., Leger G., Cilici F., Lauga-Larroze E., Bourdel S., Mir S., On the use of causal feature selection in the context of machine-learning indirect test, Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE 2019), pp. 276-279, Florence, ITALY, 2019
 
Silveira Feitoza R., Barragan M., Dzahini D., Mir S., Reduced-code static linearity test of split-capacitor SAR ADCs using an embedded incremental Sigma-Delta converter, IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Vol. 19, No. 1, pp. 37-45, DOI: 10.1109/TDMR.2019.2891298, 2019
 
Rapport annuel d'activité