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Accès autorisé au réseau reconfigurable de test par ensemble de segments

Auteur(s) : V. Reynaud, P. Maistri, R. Leveugle

Doc. Source: 13ème Colloque du GDR SoC/SiP

Des instruments de test sont embarqués dans les circuits pour réussir à tester des structures de plus en plus complexes. Il est possible d’accéder à ces instruments grâce à des réseaux de test sériel (scan), qui facilitent le travail des testeurs mais aussi des attaquants. L’objet de cet article est une solution permettant de restreindre l’accès de chaque instrument à ceux qui y sont autorisé tout en optimisant la gestion des clés donnant ces accès.