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Analysis of granularity for automatic biasing control in FDSOI technology with low-voltage supply

Auteur(s) : O. Rolloff, T. Ferreira De Paiva Leite, R. Possamai Bastos, L. Fesquet

Doc. Source: Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-Nanoélectronique (JNRDM'16)