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Evaluation de la technique de test basée sur la mesure d’un nombre réduit de codes pour les convertisseurs analogique-numérique de type pipeline

Auteur(s) : A. Laraba, M. Dubois, H. Stratigopoulos, S. Mir

Doc. Source: Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique (JNRDM’11)