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Diagnostic de fautes de circuits analogiques basé sur l’estimation non paramétrique de densité

Auteur(s) : K. Huang, H. Stratigopoulos, S. Mir

Doc. Source: Journées GDR SoC-SiP

Publisher : LIRMM & TU Darmstadt

Cet article présente une méthodologie de diagnostic de fautes pour les circuits analogiques basée sur l’estimation non paramétrique de la densité de probabilité. Nous avons utilisé un modèle de défauts qui prend en compte le comportement résistif d’un défaut. La fonction de densité de probabilité des mesures de diagnostic pour chaque défaut est estimée en utilisant une technique non paramétrique. Notre cas d’étude est un amplificateur faible bruit radio fréquence (low noise amplifier : LNA). Nous avons injecté les défauts au niveau layout et nous avons effectué des simulations post-layout pour évaluer les résultats de diagnostic.