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Génération de vecteurs de test pour les MEMS non linéaires pour le calcul des noyaux de Volterra

Auteur(s) : A. Bounceur, A. Dhayni, S. Mir, L. Rufer

Doc. Source: 8ème Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (JNRDM’05)

Pages : 340-342