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Réduction de tests fonctionnels en utilisant des techniques d'estimation non paramétrique

Auteur(s) : N. Akkouche, S. Mir, E. Simeu, H. Stratigopoulos

Doc. Source: 11ème Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique (JNRDM’08)

La part dû au test dans le coût de conception et de fabrication des circuits intégrés ne cesse de croître, d’où la n´ecessité d’optimiser cette étape devenue incontournable. Dans ce travail, une nouvelle méthode de réduction du nombre de performances à tester est proposée. Elle est basée sur la modélisation du circuit sous test par un modèle statistique non paramétrique (méthode du noyau). Cette modélisation ne nécessite aucune hypothèse sur la distribution des performances du circuit sous test. Le choix des paramètres optimaux du modèle est validé à l’aide du test de Kolmogorov-Smirnov. Une fois le modèle validé, la méthode génère un grand échantillon de circuits sur lesquels on procède à une réduction du nombre des performances suivant la valeur minimale du taux de défauts (proportion des circuits défaillants qui passe le test) estimé.