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« Techniques de conception pour le durcissement des circuits intégrés face aux rayonnements ».

Auteur : F. Vinci-Dos-Santos
Directeur de thèse : B. Courtois
These de Doctorat Université Joseph-Fourier - Grenoble I
Spécialité : Micro et Nano Electronique
Soutenance : 15/10/1998
ISBN : ISBN 2-913329-12-8
Pages : 199

Résumé

Les microsystèmes sont le dernier développement de la microélectronique. Leur apparition ouvre des possibilités révolutionnaires dans plusieurs domaines d'application, dont l'exploitation de l'espace.L'utilisation des microsystèmes dans l'espace se heurte au problème de l'exposition à la radiation, notamment pour la partie électronique. Cet obstacle a été surmonté dans le passé par la mise en place de filières de fabrication résistantes ("durcies") aux effets de la radiation. Le rétrécisemment des budgets militaires a provoqué la disparition de la plupart des technologies de fabrication durcies, ce qui est en train de pousser les constructeurs vers l'emploi de technologies commerciales standard (COTS). L'objectif de cette thèse a été d'investiguer des techniques de conception pour le durcissement d'un microsystème fabriqué par une technologie COTS. Le microsystème en question est un capteur de rayonnements infrarouges basé sur des thermopiles en silicium, suspendues par une étape de micro-usinage en volume par la face avant. Les éléments pertinents des différents domaines de connaissance impliqués sont passés en revue, avec une analyse des techniques de durcissement applicables à la construction de l'électronique de lecture en technologie CMOS. Un programme de caractérisation expérimentale a été réalisé, et il a permit d'établir le niveau de sensibilité de la technologie aux rayonnements et l'efficacité des techniques de durcissement développées. Les très bons résultats obtenus ont permis de passer à la réalisation de la chaîne de lecture du capteur, qui a été fabriquée, catactérisée et qualifiée pour l'espace.

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