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« Exploiting Body Terminals of Transistors for Performing Post-Fabrication Tests, Run-Time Tests, and Self-Adaptive Bias in Integrated Circuits ».

Auteur : R. Possamai Bastos
Rapporteur(s) de thèse : E. Beigne, M. Sonza-Reorda, B. Linares-Barranco,
Examinateur(s) de thèse : R. Velazco, P. Fouillat, P. Girard , H. Stratigopoulos,
HDR Université Grenoble Alpes
Spécialité : Nanoélectronique et Nanotechnologies
Soutenance : 30/01/2018
ISBN : 978-2-11-129239-0

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