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« Techniques de Test Pour la Détection de Chevaux de Troie Matériels en Circuits Intégrés de Systèmes Sécurisés ».

Auteur : L. Acunha Guimaraes
Directeur de thèse : L. Fesquet
Co-directeur de thèse : R. Possamai Bastos
Président du jury : G. Gogniat
Rapporteur(s) de thèse : G. Di Natale, L. Bossuet,
These de Doctorat Université Grenoble Alpes
Spécialité : Nanoélectronique et Nanotechnologies
Soutenance : 01/12/2017
ISBN : 978-2-11-129237-6

Résumé

La mondialisation et la déverticalisation des métiers du semi-conducteur a mené cette industrie à sous-traiter certaines étapes de conception et souvent la totalité de la fabrication. Au cours de ces étapes, les circuits intégrés (CIs) sont vulnérables à des altérations malignes : les chevaux de Troie matériels (HTs). Dans les applications sécuritaires, il est important de garantir que les circuits intégrés utilisés ne soient pas altérés par de tels dispositifs. Afin d’offrir un niveau de confiance élevé dans ces circuits, il est nécessaire de développer de nouvelles techniques de test pour détecter les HTs, aussi légers et furtifs soient-ils. Cette thèse étudie les menaces et propose deux approches originales de test post-fabrication pour détecter des HTs implantés après synthèse. La première technique exploite des capteurs de courant incorporés au substrat (BBICS), originalement conçus pour identifier les défauts transitoires dans les CIs. Dans notre cas, ils fournissent une signature numérique obtenue par analyse statistique permettant de détecter tout éventuel HT, même au niveau dopant. La deuxième proposition est une méthode non intrusive pour détecter les HTs dans les circuits asynchrones. Cette technique utilise la plateforme de test du circuit et ne requiert aucun matériel supplémentaire. Elle permet la détection de HTs dont la surface est inférieure à 1% de celle du circuit. Les méthodes et les techniques mises au point dans cette thèse contribuent donc à réduire la vulnérabilité des CIs aux HTs soit par adjonction d’un capteur (BBICS), soit en exploitant les mécanismes de test s’il s’agit de circuits asynchrones.

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