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« Capteurs embarqués non intrusifs pour le test des circuits RF ».

Auteur : L. Abdallah
Directeur de thèse : S. Mir
Co-directeur de thèse : H. Stratigopoulos
Rapporteur(s) de thèse : Y. Deval, B. Jarry,
These de Doctorat Université de Grenoble
Spécialité : Electronique, électrotechnique, automatique
Soutenance : 22/10/2012
ISBN : 978-2-84813-194-8

Résumé

De nos jours, les applications des circuits radiofréquences (RF) telle que les téléphones mobiles, les smart phones, les ordinateurs portables etc., envahissent le marché grand public. Cela impose aux industries une forte concurrence qui mène à la production de dispositifs innovants, rapidement et à faible coût. Bien que la phase de conception reste une étape critique dans le développement d'un circuit intégré, le coût et le temps de test sont devenus des facteurs principaux qui déterminent les bénéfices des industries. Dans la littérature, différentes techniques ont été proposées pour implémenter les approches de test des circuits RF. Ces techniques visent à tester le CUT en le reconfigurant ou en connectant des structures de test à ses différents noeuds. De ce fait, les performances du CUT sont dégradées et le cahier de charges n'est plus respecté. D'où la nécessité de le reconcevoir en tenant compte des contraintes imposées par les structures de test additionnelles afin d'acquérir les performances originales. Cependant dans un contexte industriel, pour un circuit dont le cahier de charges est contraignant, le concepteur RF vise à optimiser au maximum son design pour atteindre les spécifications. C'est pourquoi le fait de reconcevoir un circuit RF afin de retrouver les performances originales n'est pas une solution appréciée par les équipes de conception. Par conséquent, l'implémentation de structures de test intégrées qui ne dégradent pas les performances du circuit RF sera un avancement pour les approches de test. L'une des techniques prometteuses que nous proposons pour implémenter l'approche BIT consiste à utiliser des capteurs non intrusifs. Ces capteurs sont des structures de test placées à proximité du CUT sans aucune connexion électrique au signal RF. Cela implique que ces capteurs ne dégradent pas les performances originales du CUT. Par conséquent, il n'y a aucun effort particulier à réaliser au niveau de l'architecture ou de la conception pour implémenter la technique de test proposée. L'objectif de ces travaux de recherche est donc d'implémenter une technique de test incorporée dans un LNA afin de réduire le temps et le coût de test sans imposer aucune contrainte à la conception. Ceci facilite l'introduction de cette technique dans un flot de conception industriel. Des capteurs non intrusifs sont proposés pour obtenir un flot de test permettant dans une première étape d'éliminer les circuits aberrants et ensuite prédire les performances du reste des circuits ayant subi des variations process.

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