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« Analyse statique de l'effet des erreurs de configuration dans des FPGA configurés par SRAM et amélioration de robustesse ».

Auteur : J.B. Ferron
Directeur de thèse : R. Leveugle
Co-directeur de thèse : L. Anghel
Président du jury : F. Rousseau
Rapporteur(s) de thèse : H. Mehrez, F. Monteiro,
These de Doctorat Université de Grenoble
Spécialité : Electronique, électrotechnique, automatique
Soutenance : 26/03/2012
ISBN : 978-2-84813-186-3

Résumé

Cette thèse s'intéresse en premier lieu à l'analyse des effets fonctionnels des erreurs dans la configuration de FPGAs à base de SRAM. Ces erreurs peuvent provenir de perturbations naturelles (rayonnements, particules) ou d'attaques volontaires, par exemple avec un laser. La famille Virtex II de Xilinx est utilisée comme premier cas pratique d'expérimentation, puis une comparaison est réalisée avec la famille AT40K de chez ATMEL. Ceci a permis de mieux comprendre l'impact réel de différentes sources de perturbations, et les motifs d'erreur devant réellement être pris en compte pour améliorer la robustesse d'un circuit implanté sur ce type de technologie. Cette étude a nécessité le développement d'outils de conception spécifiques, permettant d'automatiser les analyses. Une méthodologie innovante est proposée pour l'évaluation de la sensibilité de la mémoire de configuration aux SEUs : une classification des bits de configuration est établie en fonction des effets produits par leur inversion sur le fonctionnement normal de l'application. Ceci permet de déterminer les zones les plus critiques, autorisant le développement de stratégies de protection sélectives et à faible coût.

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