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« Analyse de l'impact des phénomènes de vieillissement à différent niveaux d'abstraction du design ».

Auteur : N. Ruiz Amador
Directeur de thèse : L. Anghel
Co-directeur de thèse : V. Huard
Président du jury : M. Nicolaidis
Rapporteur(s) de thèse : F. Marc, A. Bravaix,
These de Doctorat Université de Grenoble
Spécialité : Micro et Nano Electronique
Soutenance : 01/02/2012
ISBN : 978-2-84813-183-2

Résumé

Les produits issus des technologies CMOS sont soumis à des profils de mission très agressifs du point de vue de la fiabilité. Les concepteurs sont ainsi à la recherche du meilleur compromis entre performance et fiabilité. Dans ce contexte, cette thèse vise à modéliser l'impact des phénomènes de vieillissement (NBTI, HC) à niveau porte en tenant en compte les interactions entre les paramètres de design et la fiabilité afin de prévoir ses répercussions sur la performance électrique du produit.