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« Modélisation de fautes et diagnostic pour les circuits mixtes/RF nanométriques ».

Auteur : K. Huang
Directeur de thèse : S. Mir
Co-directeur de thèse : H. Stratigopoulos
These de Doctorat Université de Grenoble
Spécialité : micro et nano électronique
Soutenance : 16/11/2011
ISBN : 978-2-84813-177-1

Résumé

Le diagnostic de fautes est essentiel pour atteindre l'objectif de temps avant mise sur le marché des premiers prototypes de circuits intégrés. Une autre application du diagnostic est dans l'environnement de production. Les informations de diagnostic sont très utiles pour les concepteurs de circuits afin d'améliorer la conception et ainsi augmenter le rendement de production. Dans le cas où le circuit est une partie d'un système d'importance critique pour la sûreté (e.g. automobile, aérospatial), il est important que les fabricants s'engagent à identifier la source d'une défaillance dans le cas d'un retour client pour ensuite améliorer l'environnement de production afin d'éviter la récurrence d'un tel défaut et donc améliorer la sûreté. Dans le cadre de cette thèse, nous avons développé une méthodologie de modélisation et de diagnostic de fautes pour les circuits analogiques/mixtes. Une nouvelle approche basée sur l'apprentissage automatique a été proposée afin de considérer les fautes catastrophiques et paramétriques en même temps dans le diagnostic. Ensuite, nous avons focalisé sur le diagnostic de défauts de type spot qui sont considérés comme le mécanisme de défaut principal de circuits intégrés. Enfin, la méthodologie de diagnostic proposée a été validée par les données de circuits défectueux fournies par NXP Semiconductors aux Pays-Bas.

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