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« Portes logiques à base de CNTFETs – dispersion des caractéristiques et tolérance aux défauts ».

Auteur : T. Dang
Directeur de thèse : R. Leveugle
Co-directeur de thèse : L. Anghel
Président du jury : M. Nicolaidis
Rapporteur(s) de thèse : A. Dandache, P. Girard ,
These de Doctorat Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG
Spécialité : Micro et Nano Electronique
Soutenance : 25/09/2008
ISBN : 978-2-84813-121-4

Résumé

Parmi les nouveaux nano-dispositifs, les CNTFETs sont des candidats prometteurs. Mais les circuits à base de nanotubes auront une probabilité élevée de défectuosité lors de la fabrication et une assez grande dispersion des caractéristiques. Dans ce contexte, cette thèse étudie l'implantation de portes logiques élémentaires à base de CNTFETs. Une comparaison précise de plusieurs structures logiques montre les avantages de la structure complémentaire pour les applications futures. L'influence des variations paramétriques sur les caractéristiques des CNTFETs et des portes logiques complémentaires est ensuite analysée. Une étude synthétique des défauts et fautes transitoires spécifiques aux circuits à base de CNTFETs est présentée. Enfin, une structure logique redondante est proposée pour réduire l'effet des dispersions paramétriques et pour améliorer le rendement de fabrication en tolérant certains défauts.

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