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« Génération Automatique de circuits durcis aux rayonnements au niveau transistor ».

Auteur : C. Lazzari
Directeur de thèse : L. Anghel
Co-directeur de thèse : R. Reis
Président du jury : R. Velazco
Rapporteur(s) de thèse : P. Fouillat, M. Sonza-Reorda,
These de Doctorat Grenoble INP
Spécialité : micro et nano électronique
Soutenance : 07/12/2007
ISBN : 978-2-84813-113-9

Résumé

Les technologies submicroniques ont inséré des nouveaux défis dans le projet de circuits intégrés à cause de la réduction des géométries, la réduction de la tension d'alimentation, l'augmentation de la fréquence et la densité élevée de la logique. Cette thèse est divisée dans deux contributions principales. La première contribution est liée à l'élaboration d'une nouvelle méthodologie capable de produire des circuits optimisés en ce qui concerne le retard et la puissance. On propose un nouvel flou de conception dans lequel le circuit est optimisé au niveau transistor. La deuxième contribution de cette thèse est reliée avec le développement des techniques pour les circuits durcis aux rayonnements. La technique Code Word State Preserving (CWSP) est utilisé pour appliquer la redondance dans les bascules. On propose aussi une nouvelle méthodologie dans lequel la taille de transistor est dimmensioné pour l'atténuation de faute type Single Event Transient. La méthode de sizing est basée sur un modèle analytique.

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