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« Techniques de bist pour test analogique et mixte ».

Auteur : J. Velasco-Medina
Directeur de thèse : M. Nicolaidis
These de Doctorat Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG
Spécialité : Microélectronique
Soutenance : 01/07/1999
ISBN : 2-913329-26-8
Pages : 163

Résumé

Le développement des technologies de fabrication et des outils de conception de circuits intégrés a permis la mise en œuvre d'applications nouvelles utilisant des signaux-mixtes analogiques/numériques, et l'aptitude à intégrer des systèmes analogiques et mixtes complexes dans la même puce croît rapidement. A cause de la nature hétérogène de ces produits et de leur complexité, leur test nécessite une grande attention, particulièrement sur le coût du test en production qui est un facteur proéminent dans le coût total de production. En outre, le test des circuits intégrés analogiques et mixtes est une tâche très difficile qui est devenue un domaine de recherche très intéressant dans les dernières années. Le but principal de cette thèse est porté sur le développement de deux techniques nouvelles d'Auto-Test Incorporé (BIST) pour le test des parties analogiques intégrées dans les circuits mixtes. Ces techniques facilitent la génératioan du signal de test et l'observation du signal de sortie, augmentent la qualité et la fiabilité des circuits et réduisent le coût du test. Le 1er objectif est d'améliorer la génération du signal de test. Il est accompli en considérant des courants comme des signaux de test. Les avantages de cette approche sont : a) une grande contrôlabilité de l'application des signaux de test, car ils peuvent être appliqués individuellement ou simultanément, b) l'application de tels signaux de test ne requiert plus l'autilisation de commutateurs, ce qui diminue les dégradations des performances introduites par le circuit de test, et c) une grande observabilité de la réponse de test est accomplie. Ceci minimise la probabilité de décision erronée de test. Le 2e objectif poursuit l'optimisation du problème de la mesure de la réponse de test, ce qui est abordé par l'utilisation des circuits de traitement de courant afin d'analyser la réponse de test … .

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