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Soutenances de thèses


« Architecture et validation comportementale en VHDL d'un calculateur parallèle dédié à la vision ».

Auteur : T. Collette
Directeur de thèse : B. Courtois
These de Doctorat Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG
Soutenance : 1992-09-14
Pages : 162

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« AMICAL : un assistant pour la synthèse et l'exploration architecturale des circuits de commande ».

Auteur : I. Park
Directeur de thèse : A.-A. Jerraya
These de Doctorat Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG
Spécialité : Microélectronique
Soutenance : 1992-07-03
Pages : 201

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« Etude d'un processeur RISC pour un système symbolique parallèle ».

Auteur : A. Jemai
Directeur de thèse : G. Berger Sabbatel
These de Doctorat Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG
Soutenance : 1992-06-22
Pages : 146

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« Conception d'une famille de coprocesseurs parallèles intégrés pour le traitement d'images ».

Auteur : T. Court
Directeur de thèse : B. Courtois
These de Doctorat Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG
Soutenance : 1991-12-09

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« Traitement d'images en analyse de défaillances de circuits intégrés par faisceau d'électrons ».

Auteur : D. Conard
Directeur de thèse : B. Courtois
These de Doctorat Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG
Soutenance : 1991-02-11

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« Approches à base de connaissances pour le test des circuits VLSI : application à la validation de prototypes dans le cas d'un test sans contact ».

Auteur : M. Marzouki
Directeur de thèse : B. Courtois
These de Doctorat Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG
Soutenance : 1991-02-06

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« Etude de faisabilité d'un microcontrôleur de très haute sécurité ».

Auteur : G. Chaumontet
Directeur de thèse : B. Courtois
These de Doctorat Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG
Soutenance : 1990-10-26

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« Etude d'une stratégie d'autotest intégré pour le compilateur de silicium SYCO ».

Auteur : K. Torki
Directeur de thèse : B. Courtois
These de Doctorat Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG
Soutenance : 1990-07-12

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« Analyse de défaillances de circuits intégrés VLSI par testeur à faisceau d'électrons ».

Auteur : D. Savart
Directeur de thèse : B. Courtois
These de Doctorat Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG
Soutenance : 1990-06-27

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