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Dr Béatrice PRADARELLI, Responsable Formations Test Industriel & Engineering , Pôle CNFM de Montpellier, Université Montpellier II – CC 477

Theme: Industrialisation et Test de circuits intégrés - Formations au test industriel de circuits intégrés du CNFM
Date: Vendredi 13 décembre 2013 à 10 h 30, Laboratoire TIMA - Salle T312

Biography

Béatrice Pradarelli est docteur en microélectronique de l’Université Montpellier 2. Elle a soutenu sa thèse intitulée « Diagnostic de fautes de délai dans les circuits séquentiels synchrones et génération de vecteurs de test orientés diagnostic » en 1996.
Elle a passé les 10 années suivantes à travailler dans l’industrie semi-­conducteurs pour VLSI-­Technology et Philips Semi-­conductors où elle a occupé différents postes dans le domaine du test industriel : ingénieur test, responsable d’une équipe de test, architecte de test.
Depuis 2007, elle est responsable des formations au test industriel proposées par le pôle CNFM de Montpellier et donne du support aux chercheurs et enseignants-­chercheurs du LIRMM. Email : beatrice.pradarelli@cnfm.fr

Abstract

Dans le cycle de vie d’un circuit intégré, il y a 3 phases principales: la conception du circuit intégré par une équipe projet, la phase de pré-production/caractérisation et celle de production de masse. Cette présentation s’attache à décrire ces étapes :
-- Difficultés techniques et contraintes économiques du test de production et de l’industrialisation de circuits intégrés.
-­‐ Organisation et fonctionnement d’une équipe R&D pour concevoir un nouveau produit (profitabilité, planning, analyse de risque, …)
-­‐ Caractérisation du produit pour connaître sa robustesse par rapport au process, sa tenue aux ESD, LAUP et en température et la fiabilité des résultats de test dans l’environnement de production
Les métiers du test et les entreprises du semi-­conducteur clôtureront la première partie (3/4 du temps). La deuxième partie sera dédiée à la présentation du CNFM, des Services Nationaux et des formations au test industriel de CI.

Three main steps compose a device life cycle: the design of the IC within a project team, the pre-­ production/characterization and mass production phases.
The purpose of this presentation is to explain the organization, difficulties and constraints met at each step:
-­‐ Business constraints and technical difficulties of the industrialization and test of complex devices
-­‐ R&D project team organization and work to design a new product
-­‐ Characterization of the new product versus Process, ESD, LAUP, Temperature and mass production test equipment
Jobs and semi-­‐conductors companies will end the first part of the presentation (3/4 of the allocated time) The second part will be dedicated to present the CNFM, the National Services and the industrial test training courses.