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CDSI

Circuits, Devices and System Integration
créée en 2015


Thèmes de recherche

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L'axe Conception de Dispositifs, Circuits et Systèmes (CDSI) oeuvre dans le domaine de la conception, la fabrication et le test de dispositifs, circuits et systèmes intégrés. L'activité principale se concentre sur la minimisation de l'énergie et la miniaturisation de composants et systèmes. Les résultats de ces recherches sont notamment applicables aux systèmes mobiles et autonomes, qui nécessite en pratique faible consommation, miniaturisation, robustesse et sécurité. En effet, notre société numérique, qui offre de puissantes infrastructures de communication pour les personnes, tend à étendre cette possibilité aux machines et aux petits objets communicants comme les réseaux de capteurs (Internet des objets). Ce développement va multiplier par plusieurs ordres de grandeur la quantité d'énergie consommée par ces objets numériques et cela va contraindre l'industrie à adopter de nouvelles stratégies pour limiter cet excès de consommation. Dans ce contexte, les équipes CIS (Concurrent Integrated Systems)et MNS (Micro and Nano Systems) devéloppent de nouvelles techniques basées sur les circuits asynchrones, l'échantillonnage non-uniforme, la récupération d'énergie et des capteurs ou actionneurs conçus pour la faible consommation.

Responsables d'équipe

BASROUR Skandar
FESQUET Laurent

Dernières publications

Possamai Bastos R., Exploiting Body Terminals of Transistors for Performing Post-Fabrication Tests, Run-Time Tests, and Self-Adaptive Bias in Integrated Circuits, HDR, 2018
 
Trioux E., Monfray S., Basrour S., Micro thermal energy harvester design optimization, Journal of Micromechanics and Microengineering, Ed. IOP Science, Vol. 27, No. 11, pp. 114001, 2017
 
Possamai Bastos R., Acunha Guimaraes L., Torres F.S., Fesquet L., Architectures of Bulk Built-In Current Sensors for Detection of Transient Faults in Integrated Circuits, Microelectronics journal, Ed. Elsevier, Vol. , 2017
 
Viera R.A.C., Possamai Bastos R., Dutertre J.M., Maurine P., Method for evaluation of transient-fault detection techniques, Microelectronics Reliability, Ed. Elsevier, Vol. , 2017
 
Rocha R. O., Torres F.S., Possamai Bastos R., Towards high-sensitive built-in current sensors enabling detection of radiation-induced soft errors, Microelectronics Reliability, Ed. Elsevier, Vol. , 2017
 
Rapport annuel d'activité