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RMS

Reliable Mixed-signal Systems
créée en 2002


Thèmes de recherche

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L'équipe RMS a une expertise reconnu dans le domaine des systèmes et circuits intégrés analogiques/mixtes (AMS) et radiofréquence (RF), avec un accent spécifique sur les techniques de test / de contrôle embarqués et les outils de CAO associés. Ceci est particulièrement important pour les systèmes hautement intégrés, notamment les systèmes sur puce à signaux mixte (AMS SoC) qui sont utilisés aujourd'hui dans la plupart des applications de la société de l'information. Les techniques que nous développons visent à réduire les coûts de test de production, à augmenter le rendement de production, à améliorer la qualité, la fiabilité et la robustesse. Nos activités couvrent trois axes de recherche scientifique; "conception en vue du test de système analogique / mixte /RF", "Test assistée par ordinateur (TAO)'' et ''contrôle embarqué des systèmes hétérogènes AMS et RF " y compris la modélisation de systèmes hétérogènes à différents niveaux d'abstraction. Notre expertise dans ce domaine nous permet d'obtenir des résultats qui ne sont pas seulement un pionnier et considérés comme l'état de l'art dans le domaine de recherche, mais font aussi l'objet d'exploitation industrielle. La pertinence nos travaux de recherche et la qualité des résultats obtenus sont confirmées par des prix de meilleur papier obtenus dans les grandes conférences internationales dans chacun des trois axes de recherche au cours des dernières années. Notre équipe est impliquée dans divers projets de recherche et de développement nationaux et européens et a initié des collaborations durables avec de nombreuses universités étrangères.

Responsable d'équipe

SIMEU Emmanuel

Dernières publications

Barragan M., Eisenstadt W., Guest Editorial: Analog, Mixed-Signal and RF Testing, Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Ed. Springer , Vol. 33, No. 3, pp. 281-282, DOI: 10.1007/s10836-017-5663-z, 2017
 
Malloug H., Barragan M., Mir S., Le Gall H., Harmonic cancellation strategies for on-chip sinusoidal signal generation using digital resources, International Mixed-Signal Testing Workshop (IMSTW'17), Thessaloniki, GREECE, 2017
 
Malloug H., Barragan M., Mir S., Basteres L., Le Gall H., Design of a sinusoidal signal generator with calibrated harmonic cancellation for mixed-signal BIST in a 28 nm FDSOI technology, European Test Symposium (ETS'17), Limassol, CYPRUS, 2017
 
Portolan M., Barragan M., Alhakim R., Mir S., Mixed-Signal BIST computation offloading using IEEE 1687, European Test Symposium (ETS'17), Limassol, CYPRUS, 2017
 
Renaud G., Margalef-Rovira M., Barragan M., Mir S., Analysis of an efficient on-chip servo-loop technique for reduced-code static linearity test of pipeline ADCs, VLSI Test Symposium (VTS'17), Las Vegas, UNITED STATES, DOI: 10.1109/VTS.2017.7928951, 2017
 
Rapport annuel d'activité