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RMS

Reliable Mixed-signal Systems
créée en 2002


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L'équipe RMS a une expertise reconnu dans le domaine des systèmes et circuits intégrés analogiques/mixtes (AMS) et radiofréquence (RF), avec un accent spécifique sur les techniques de test / de contrôle embarqués et les outils de CAO associés. Ceci est particulièrement important pour les systèmes hautement intégrés, notamment les systèmes sur puce à signaux mixte (AMS SoC) qui sont utilisés aujourd'hui dans la plupart des applications de la société de l'information. Les techniques que nous développons visent à réduire les coûts de test de production, à augmenter le rendement de production, à améliorer la qualité, la fiabilité et la robustesse. Nos activités couvrent trois axes de recherche scientifique; "conception en vue du test de système analogique / mixte /RF", "Test assistée par ordinateur (TAO)'' et ''contrôle embarqué des systèmes hétérogènes AMS et RF " y compris la modélisation de systèmes hétérogènes à différents niveaux d'abstraction. Notre expertise dans ce domaine nous permet d'obtenir des résultats qui ne sont pas seulement un pionnier et considérés comme l'état de l'art dans le domaine de recherche, mais font aussi l'objet d'exploitation industrielle. La pertinence nos travaux de recherche et la qualité des résultats obtenus sont confirmées par des prix de meilleur papier obtenus dans les grandes conférences internationales dans chacun des trois axes de recherche au cours des dernières années. Notre équipe est impliquée dans divers projets de recherche et de développement nationaux et européens et a initié des collaborations durables avec de nombreuses universités étrangères.

Responsable d'équipe

SIMEU Emmanuel

Dernières publications

Margalef-Rovira M., Lugo-Alvarez J., Bautista A., Vincent L., Lepilliet S., Saadi A., Podevin F., Barragan M., Pistono E., Bourdel S., Gaquière C., Ferrari P., Design of mm-Wave Slow-wave Coupled Coplanar Waveguides, IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Ed. IEEE, Vol. , DOI: 10.1109/TMTT.2020.3015974, 2020
 
Takam Tchendjou G., Simeu E., Detection, Location and Concealment of Defective Pixels in Image Sensors, IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing, Ed. IEEE, Vol. , DOI: 10.1109/TETC.2020.2976807, 2020
 
Troussier C., Bourgeat J., Simeu E., Arnould J.D., Jimenez J., Jacquier B., Study of Inter-Power Domain Failures during a CDM Event, IEEE 42nd EOS/ESD symposium (ESDA 2020), Virginia St, Reno, UNITED STATES, 2020
 
Margalef-Rovira M., Design of mm-wave Reflection-Type Phase Shifters with Oscillation-Based Test capabilities, These de Doctorat, 2020
 
Cilici F., Barragan M., Lauga-Larroze E., Bourdel S., Leger G., Vincent L., Mir S., A Nonintrusive Machine Learning-Based Test Methodology for Millimeter-Wave Integrated Circuits, IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Ed. IEEE, Vol. , pp. 1-1, DOI: 10.1109/TMTT.2020.2991412, 2020
 
Rapport annuel d'activité