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Calibrage automatique d’un convertisseur Sigma-Delta utilisant un BIST

Author(s): M. Dubois, N. Chouba, S. Mir

Doc. Source: 11ème Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique (JNRDM’08)

Cet article présente l’utilisation d’une technique de test intégré (BIST pour Built In Self Test) qui permet la mesure du signal sur bruit avec distorsion (SINAD) d’un convertisseur sigma-delta (SD) comme outil de calibrage de ce circuit. La mise en valeur de cette méthode fut effectuée en utilisant un circuit intégré comprenant un modulateur SD du second ordre et le BIST, un circuit programmable (FPGA) et des potentiomètres numériques. Ces derniers permettent de modifier les tensions de polarisation de l’amplificateur opérationnel constituant le modulateur. Le démonstrateur conçu est aussi piloté par une interface graphique sous Labview ®.